簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果：共3筆資料 檢索策略： "陳俊良".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="可靠度"


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    1
    結合硬體修復與錯誤修正碼提升嵌入式記憶體良率與可靠度技術
    • 電機工程系 /103/ 碩士
    • 研究生： 蔡政儒   指導教授： 呂學坤
    • 錯誤修正碼與內建自我修復 (BISR) 技術被廣泛的用來改善記憶體良率與可靠度。而這兩個技術主要處理的錯誤與瑕疵分別為永久瑕疵 (硬錯誤) 與軟錯誤。在過去有許多研究探討如何使用錯誤修正碼與 BIS…
    • 點閱：773  下載：18 

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    以故障分散技術提升非揮發性記憶體的可靠度與良率
    • 電機工程系 /101/ 碩士
    • 研究生： 鄭浩晟   指導教授： 呂學坤
    • 針對記憶體中的故障細胞，除了只使用備用行或備用列來取代之外，錯誤更正碼也被認為是一種有效率的修復技術。錯誤更正碼若被用來處理永久性的故障 (Permanent Faults)，記憶體在製程上的良率與…
    • 點閱：217  下載：9 

    3
    內嵌式記憶體良率與可靠度之協同提升技術
    • 電機工程系 /102/ 碩士
    • 研究生： 何思瑩   指導教授： 呂學坤
    • 隨著半導體製程技術的進步，系統晶片 (SOC) 中使用的嵌入式記憶體容量與密度越來越高，而導致記憶體故障更容易發生。因此，記憶體的良率很大程度決定系統晶片的良率。單一位元故障占所有故障形態比例最高，…
    • 點閱：322  下載：18 
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